[ci]add new bsp

[components][utest] 增加线程模式、loop功能、通配符指定名字

完善 Sensor

[components][utest] 对于不支持的测试用例，增加输出日志
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[bsp/stm32]change str(Dir('#')) to GetCurrentDir()

[ptherad] Fix pthread_exit issue

[components][utest] utest_run 指定测试用例名字的时候，增加通配符 `*` 的支持，及支持仅指定测试用例名字的前部分字节来运行测试用例。该功能会执行匹配成功的所有测试用例。
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When pthread invokes pthread_exit, it just detach self.

[components][driver]修复使用spi驱动在sfud的qspi模式下的断言问题

添加片上外设驱动选项

[bsp] add bsp es32f0654

在使用 utest 的线程模式的时候，utest_run 命令执行完成后，finsh 会输出 `msh >`，干扰了 utest 内部的日志结构，因此默认在 utest 启动前增加延时。
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添加新的 sensor 框架

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[Kernel] Code cleanup for compiling warning.

Fixed data loss issue when USB CDC serial works in dma transmission m…

Fix pthread

完善stm32_adc_init函数

net:  lwip-2.1.0: 修复编译过程中的警告/Fix compile-time warnings

add /bsp/stm32/stml476-st-nucleo

X1000: mtd_nor_partition.c: 修复编译过程中的警告/Fix compile-time warnings

Add support W5500,ESP8266,RS485,I2C,RTC,ADC,IWG.

在第334行中,“(rt_uint32_t*)&msg”应改为“(rt_ubase_t *)&msg”。
在第366行中,“(rt_uint32_t*)&msg”应改为“(rt_ubase_t *)&msg”。

In line 334, "(rt_uint32_t*)&msg" should be changed to "(rt_ubase_t *)&msg".
In line 366, "(rt_uint32_t*)&msg" should be changed to "(rt_ubase_t *)&msg".
Signed-off-by: NZhou Yanjie <zhou_yan_jie@163.com>

在第519行中,“(rt_uint32_t *)msg”应改为“(rt_ubase_t *)msg”。
在第550行中,“(rt_uint32_t *)msg”应改为“(rt_ubase_t *)msg”。

In line 519, "(rt_uint32_t *)msg" should be changed to "(rt_ubase_t *)msg".
In line 550, "(rt_uint32_t *)msg" should be changed to "(rt_ubase_t *)msg".
Signed-off-by: NZhou Yanjie <zhou_yan_jie@163.com>